Студопедия

Главная страница Случайная страница

Разделы сайта

АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника






Электронная микроскопия и ее виды






Электронная микроскопия использует для " просвечивания" морфологи­ческих объектов пучок электронов. Пучок электронов испускается электрон­ной пушкой в условиях высокого вакуума и ускоряющего напряжения. Да­лее этот пучок фокусируется при помощи электромагнитов (электромаг­нитные линзы). Сфокусированный пучок направляется на изучаемый объект, имеющий структуры с различной электронной плотностью. Прой­дя через объект, пучок электронов падает на люмииесцирующий экран, на котором и создает плоскостное изображение структур объекта. Это изобра­жение может быть сфотографировано. Общий вид электронного микроско­па показан на рис. 2.4.

Разрешающая способность современных электронных микроскопов равна 0, 1 нм (в 200 000 раз выше, чем световых микроскопов), а увеличе­ние — 1 миллион раз. Описанная разновидность электронной микроско­пии называется просвечивающей (трансмиссионной). Используя ее, можно изучить тонкое внутреннее строение клеток и межклеточных структур. Сканирующие, или растровые, микроскопы позволяют увидеть трехмерное изображение объекта, его поверхность. Принцип работы растрового элект­ронного микроскопа заключается в том, что пучок электронов последова­тельно движется по поверхности гистологического объекта, на которую предварительно напылено твердое вещество. Под действием пучка элект­ронов выбиваются вторичные электроны, которые регистрируются телеви­зионным экраном. Так последовательно " высвечивается" (сканируется) вся поверхность гистологического объекта. Рис. 2.5 демонстрирует изображе­ния объектов, получаемые с помощью трансмиссионного и сканирующего электронных микроскопов.

Высоковольтная трансмиссионная электронная микроскопия за счет увеличения ускоряющего напряжения обеспечивает огромную скорость движения электронов. Благодаря этому они значительно глубже, чем при обычной трансмиссионной микроскопии, проникают в изучаемый объект. Высоковольтный микроскоп (рис. 2.6) дает высокую разрешаю­щую способность и позволяет изучать срезы до нескольких микромет­ров толщиной.

 


 

 






© 2023 :: MyLektsii.ru :: Мои Лекции
Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав.
Копирование текстов разрешено только с указанием индексируемой ссылки на источник.