Главная страница Случайная страница Разделы сайта АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника |
Электронная микроскопия и ее виды
Электронная микроскопия использует для " просвечивания" морфологических объектов пучок электронов. Пучок электронов испускается электронной пушкой в условиях высокого вакуума и ускоряющего напряжения. Далее этот пучок фокусируется при помощи электромагнитов (электромагнитные линзы). Сфокусированный пучок направляется на изучаемый объект, имеющий структуры с различной электронной плотностью. Пройдя через объект, пучок электронов падает на люмииесцирующий экран, на котором и создает плоскостное изображение структур объекта. Это изображение может быть сфотографировано. Общий вид электронного микроскопа показан на рис. 2.4. Разрешающая способность современных электронных микроскопов равна 0, 1 нм (в 200 000 раз выше, чем световых микроскопов), а увеличение — 1 миллион раз. Описанная разновидность электронной микроскопии называется просвечивающей (трансмиссионной). Используя ее, можно изучить тонкое внутреннее строение клеток и межклеточных структур. Сканирующие, или растровые, микроскопы позволяют увидеть трехмерное изображение объекта, его поверхность. Принцип работы растрового электронного микроскопа заключается в том, что пучок электронов последовательно движется по поверхности гистологического объекта, на которую предварительно напылено твердое вещество. Под действием пучка электронов выбиваются вторичные электроны, которые регистрируются телевизионным экраном. Так последовательно " высвечивается" (сканируется) вся поверхность гистологического объекта. Рис. 2.5 демонстрирует изображения объектов, получаемые с помощью трансмиссионного и сканирующего электронных микроскопов. Высоковольтная трансмиссионная электронная микроскопия за счет увеличения ускоряющего напряжения обеспечивает огромную скорость движения электронов. Благодаря этому они значительно глубже, чем при обычной трансмиссионной микроскопии, проникают в изучаемый объект. Высоковольтный микроскоп (рис. 2.6) дает высокую разрешающую способность и позволяет изучать срезы до нескольких микрометров толщиной.
|