Искательные устройства

У дефектоскопа искательное устройство (рис. 17) состоит из ______ ______________________________________________, при помощи которой катушка ставится на поверхность катания головки и пере­мещается вдоль рельса. Индук­ционная катушка вставляется в ______________ 4, укреп­ленный на ______________ 3. Одним кон­цом лыжа кре­пится на ______________ 2, которая закреп­лена в ________________ 1. Каркас катушки выполнен из немаг­нитных материалов: ________________________________.

Обмотку катушек и корпус пропитывают изоляционной массой, на­пример церезином, и просушивают. Качествен­ная пропитка иска­телей изоляционной массой – важное условие их надежной работы, так как искатели работают в очень сложных условиях и подвержены сильному воз­действию влаги. Концы обмотки выводятся на клеммы, укрепленные на корпусе, к которым припаиваются прово­да, соеди­няющие искатель с регистрирующими устройст­вами.

Лыжа изготавливается из немагнитных материалов, на­пример не­магнитной стали. Часть лыжи, скользящая по рельсу (дну лыжи), имеет толщину 0, 8-1 мм и длину не более 40-50 мм. Применять лыжи с большей толщиной дна и длиной контактирующей с рельсом части нецелесооб­разно, так как из-за неровностей дна и рельса это может привести к удалению искательной катушки от поверхнос­ти катания головки и, следовательно, снизить чувстви­тельность дефектоскопа к дефектам.

Рис. 17. Лыжа с искательной катушкой

Конструкция лыжи исключает возможность поперечных смеще­ний искателя относительно ____________ 1, допус­кая при этом свобод­ное вращение его на _____________ 2. К рельсу лыжа прижима­ется пружиной. Нажатие не долж­но быть слишком сильным (0, 2-0, 3 кгс), так как в против­ном случае это приведет к быстрому износу дна лыжи. Вместе с тем прижатие должно быть достаточным, чтобы быс­тро возвращать лыжу в исходное положение в случае ударов при про­хождении по стыкам, при попадании пос­торонних предметов и т.д. Лыжа устанавливается в меж­полюсном пространстве электро­магни­та в зоне его второго по направлению движения полюса. При этом, чем ближе к полюсу расположен искатель, тем выше его чувст­витель­ность к дефектам второй группы.