Главная страница Случайная страница Разделы сайта АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника |
💸 Как сделать бизнес проще, а карман толще?
Тот, кто работает в сфере услуг, знает — без ведения записи клиентов никуда. Мало того, что нужно видеть свое раписание, но и напоминать клиентам о визитах тоже.
Проблема в том, что средняя цена по рынку за такой сервис — 800 руб/мес или почти 15 000 руб за год. И это минимальный функционал.
Нашли самый бюджетный и оптимальный вариант: сервис VisitTime.⚡️ Для новых пользователей первый месяц бесплатно. А далее 290 руб/мес, это в 3 раза дешевле аналогов. За эту цену доступен весь функционал: напоминание о визитах, чаевые, предоплаты, общение с клиентами, переносы записей и так далее. ✅ Уйма гибких настроек, которые помогут вам зарабатывать больше и забыть про чувство «что-то мне нужно было сделать». Сомневаетесь? нажмите на текст, запустите чат-бота и убедитесь во всем сами! Определение периода идентичности вдоль оси вращения кристалла
Расстояние между слоевыми линиями Ln является функцией периода идентичности атомного ряда, расположенного вдоль оси вращения кристалла. Обозначим период идентичности атомной решетки по оси вращения через I и расстояние между плоскостями обратной решетки по этой оси через d*. Между этими величинами, как следует из построения обратной решетки, существует зависимость I = 1/d* (5.2) Таким образом, определив величину d*, можно вычислить период идентичности I по оси вращения кристалла.
Рис.5.5. К определению периода идентичности по рентгенограмме вращения.
Изрис.5.5 видно, что sinan = (nd*)l, откуда d*= . (5.3) Угол an определяется по расположению слоевых линий на рентгенограмме вращения (рис.5.5) tgan=Ln/r. (5.4) Здесь n – номер слоевой линии, Ln – расстояние от нулевой слоевой линии до n-ой, r – радиус камеры вращения, в которой помещается фотопленка. На практике рекомендуется измерять расстояние 2Ln, то есть расстояние между положительной (n) и отрицательной (–n) симметричными слоевыми линиями. Тогда результаты определения периода идентичности получаются более точные. При этом получим: (5.5) где D – диаметр камеры вращения. Из последней формулы находим угол an, значение которого подставляем в формулу для d*. В результате получим, что период идентичности вдоль оси вращения кристалла I = 1 / d* = nl / sin (arctg (2Ln / D)). (5.6) В общем случае размеры элементарной ячейки при съемке методом вращения определяются по трем рентгенограммам, снятым при вращении вокруг 3-х основных внутренних кристаллографических осей. Тип ячейки Бравэ выявляется при сравнении периодов идентичности вдоль осей [100], [110], [111]. Окончательное заключение о типе ячейки Бравэ делается после индицирования рентгенограммы. Этот вывод следует согласовать с числом частиц в элементарной ячейке, расчет которого приводился при рассмотрении метода порошков.
|