Главная страница Случайная страница
Разделы сайта
АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника
Физические методы изучения структуры материалов. 1. Методы изучения элементного состава материалов 720
|
|
1. Методы изучения элементного состава материалов 720
1.1 Особенности эмиссионного спектрального анализа 720
1.2 Способы локализации разряда 722
1.3 Способ поверхностного и послойного спектрального анализа 726
1.4 Качественный эмиссионный спектральный анализ 727
1.5 Особенности эмиссионный спектральный анализ 729
1.6 Количественный эмиссионный спектральный анализ 731
1.7 Спектральные приборы 734
1.8 Примеры практического применения 736
1.8.1 Определение содержания углерода 736
1.8.2 Послойный микроанализ на углерод в сталях 736
1.8.3. Анализ неметаллических включений в сталях 737
1.8.4 Локальный микроанализ с применением
ограничительных шайб 737
1.8.5 Микроанализ ликвационной неоднородности сплавов 737
1.8.6 Спектральный анализ сложнолегированных сталей 738
1.8.7 Специальные методы спектрального анализа 738
2. Рентгеноспектральный анализ 739
2.1 Физические особенности флуоресцентного
рентгеноспектрального анализа 739
2.2 Возможности рентгеноспектрального анализа
и его применение 742
2.3 Основные этапы рентгеноспектрального анализа 743
2.4 Нахождение концентрации определяемого элемента 747
2.5 Аппаратура рентгеноспектрального анализа 752
2.6 Примеры рентгеноспектрального флуоресцентного анализа 754
2.6.1 Анализ с поправками на поглощение аналитической
линии в образце 754
2.6.2 Анализ с поправками на поглощение аналитической
и первичного излучения 755
3. Микрорентгеноспектральный анализ 736
3.1 Физические особенности рентгеноспектрального анализа 736
3.2 Детекторы рентгеновского излучения 761
3.3 Рентгеновские микроанализаторы 763
3.4 Качественный микрорентгеноспектральный анализ 765
3.5 Полуколичественный и количественный анализ 766
3.6 Примеры практического применения 768
3.6.1 Ликвация в сталях и сплавах 768
3.6.2 Ликвация в сплавах на основе никеля 770
3.6.3 Рентгеновский микроанализ при изучении диффузионных
— Регулярная проверка качества ссылок по более чем 100 показателям и ежедневный пересчет показателей качества проекта.
— Все известные форматы ссылок: арендные ссылки, вечные ссылки, публикации (упоминания, мнения, отзывы, статьи, пресс-релизы).
— SeoHammer покажет, где рост или падение, а также запросы, на которые нужно обратить внимание.
SeoHammer еще предоставляет технологию Буст, она ускоряет продвижение в десятки раз, а первые результаты появляются уже в течение первых 7 дней. Зарегистрироваться и Начать продвижение
процессов 771
4. Метод вторичной ионной масс-спектрометрии 772
5. Применение лазеров в спектральном анализе 776
6. Методы металлографии 780
6.1 Методы подготовки объектов 780
6.2 Металлографические микроскопы 781
6.3 Практическая металлография 783
7. Методы просвечивающей электронной микроскопии 784
7.1 Физические особенности электронной оптики 784
7.2 Механизм формирования контраста в электронном микроскопе 793
7.3 Методы подготовки объектов 799
8. Отражательный электронный микроскоп 808
9. Эмиссионный электронный микроскоп 809
10. Автоэлектронная микроскопия 809
11. Автоионная микроскопия 811
12. Растровая сканирующая электронная микроскопия 812
12.1 Физические особенности работы растрового микроскопа 812
12.2 Формирование изображения и контраст в растровом
электронном микроскопе 818
12.2.1. Троекторный контраст 820
12.2.2 Топографический контраст 821
12.3 Методы обработки видиосигналов 823
12.4 Методы подготовки объектов 824
12.5 Методы совместного использования растрового
электронного микроскопа и рентгеновского микроанализатора 826
13. Сканирующая туннельная микроскопия 830
14. Дифракционная электронная микроскопия 831
14.1 Физические особенности дифракции электронов 831
14.2 Физический механизм формирования дифракционного
контраста 835
15. Рентгеноструктурный анализ 842
15.1 Физические особенности рентгеноструктурно анализа 842
15.2 Источники рентгеновского характеристического излучения 846
15.3 Методы регистрации характеристического
рентгеновского излучения 848
15.4 Дифракция рентгеновского излучения 852
15.5 Методы индицирования дифракционных спектров 854
15.6 Качественный рентгеновский фазовый анализ 855
15.7 Количественный рентгеновский фазовый анализ 857
15.7.1 Метод гомологических пар 857
15.7.2 Метод внутреннего стандарта 857
15.7.3 Фазовый анализ при наложении линий определяемой фазы 858
15.7.4 Метод измерения отношения интенсивностей
аналитических линий 858
15.7.5 Метод измерения массового коэффициента поглощения 859
15.7.6 Метод внешнего стандарта 859
15.7.7 Метод наложения 859
15.8 Методы практического расчёта параметров
элементарной ячейки 860
15.9 Методы расчёта структурных параметров
кристаллических материалов 864
15.9.1 Особенности расчёта структурных параметров 864
15.9.2 Метод определения величины микронапряжений и
кристаллических блоков методом аппроксимации 865
15.9.3 Определение величины микронапряжений и
кристаллических блоков методом гармонического анализа 868
— Разгрузит мастера, специалиста или компанию;
— Позволит гибко управлять расписанием и загрузкой;
— Разошлет оповещения о новых услугах или акциях;
— Позволит принять оплату на карту/кошелек/счет;
— Позволит записываться на групповые и персональные посещения;
— Поможет получить от клиента отзывы о визите к вам;
— Включает в себя сервис чаевых.
Для новых пользователей первый месяц бесплатно. Зарегистрироваться в сервисе
16. Практические работы 870
16.1 Эмиссионный оптический анализ 870
16.2 Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ 871
16.3 Дифракционная электронная микроскопия 874
16.4 Микрорентгеноспектральный анализ 878
16.5 Рентгеноструктурный анализ 882
16.5.1 Фазовый анализ по данным о межплоскостных
расстояниях 882
16.5.2 Расчёт параметра кристаллической решётки для
кубической сингонии 884
16.5.3 Определение микродеформаций и областей
когерентного рассеяния методом аппроксимации 886
Литература 795
|
|