Определение периода идентичности вдоль оси вращения кристалла

Расстояние между слоевыми линиями L_n является функцией периода идентичности атомного ряда, расположенного вдоль оси вращения кристалла. Обозначим период идентичности атомной решетки по оси вращения через I и расстояние между плоскостями обратной решетки по этой оси через d*. Между этими величинами, как следует из построения обратной решетки, существует зависимость

I = 1/d* (5.2)

Таким образом, определив величину d*, можно вычислить период идентичности I по оси вращения кристалла.

Рис.5.5. К определению периода идентичности по рентгенограмме вращения.

Изрис.5.5 видно, что sina_n = (nd*)l, откуда

d*= . (5.3)

Угол a_n определяется по расположению слоевых линий на рентгенограмме вращения (рис.5.5)

tga_n=L_n/r. (5.4)

Здесь n – номер слоевой линии, L_n – расстояние от нулевой слоевой линии до n-ой, r – радиус камеры вращения, в которой помещается фотопленка.

На практике рекомендуется измерять расстояние 2L_n, то есть расстояние между положительной (n) и отрицательной (–n) симметричными слоевыми линиями. Тогда результаты определения периода идентичности получаются более точные. При этом получим:

(5.5)

где D – диаметр камеры вращения.

Из последней формулы находим угол a_n, значение которого подставляем в формулу для d*. В результате получим, что период идентичности вдоль оси вращения кристалла

I = 1 / d* = nl / sin (arctg (2L_n / D)). (5.6)

В общем случае размеры элементарной ячейки при съемке методом вращения определяются по трем рентгенограммам, снятым при вращении вокруг 3-х основных внутренних кристаллографических осей.

Тип ячейки Бравэ выявляется при сравнении периодов идентичности вдоль осей [100], [110], [111]. Окончательное заключение о типе ячейки Бравэ делается после индицирования рентгенограммы. Этот вывод следует согласовать с числом частиц в элементарной ячейке, расчет которого приводился при рассмотрении метода порошков.