Дифракционный структурный анализ

1. Устройство металлографических микроскопов. Назначение основных линз. Аберрации линз и методы их устранения. Источники света

2. Формирование оптического изображения поверхности шлифа. Основные методы микроскопического исследования: светлопольное, косое, темнопольное освещение; метод поляризованного света.

3. Просвечивающая электронная микроскопия и ее физические основы. Устройство и основные характеристики просвечивающего электронного микроскопа. Методы подготовки образцов для просвечивающих электронных микроскопов.

4. Растровая электронная микроскопия и ее физические основы. Взаимодействие электронного пучка с образцом. Устройство, принципиальная схема и характеристики растрового электронного микроскопа.

5. Типы сканирующих зондовых микроскопов. Принципы работы и основные узлы сканирующих зондовых микроскопов. Методы сканирующей туннельной микроскопии. Изготовление зондов для сканирующих туннельных микроскопов.

6. Принципы работы и основные узлы атомно-силового микроскопа. Контактные и колебательные методики атомно-силовой микроскопии. Принцип работ и особенности магнитно-силовой микроскопии. Двухпроходные методики.

7. Рентгеновское излучение. История открытия, природа и основные свойства. Источники рентгеновского излучения. Устройство рентгеновской трубки. Механизмы взаимодействия рентгеновского излучения с веществом.

8. Рентгеноструктурный анализ и его физические основы. Уравнения Лауэ и Вульфа-Брэгга. Сравнительная характеристика дифракционных структурных методов: рентгенографии, нейтронографии и электронографии.

9. Характеристика экспериментальных методов рентгеноструктурного анализа. Метод Дебая-Шеррера, метод малоуглового рассеяния. Рентгеновская топография.

10. Характеристика методов рентгенографии. Фазовый анализ. Определение числа, размеров и разориентации кристаллитов. Оценка остаточных напряжений. Анализ твердых растворов.

11. Электронография и ее физические основы. Экспериментальное оборудование. Основные области применения методов электронографии.

12. Нейтронография и ее физические основы. Характеристика экспериментальных методов. Структурная и магнитная нейтронография.

Справочный материал, разрешенный к использованию на экзамене

1. Справочник по физике для инженеров и студентов ВУЗов, Яворский Б.М., Детлаф А.А., Лебедев А.К., 2006

2. Другие литературные источники, имеющие статус справочника.

Рекомендуемая литература

1. Алешкевич В.А., Деденко Л.Г., Караваев В.А. Курс общей физики. Механика. М., Физматлит, 2011;

2. Сивухин Д.В. Общий курс физики. Механика: М., Физматлит, 2005.

3. Сивухин Д.В. Общий курс физики. Термодинамика и молекулярная физика: М., Физматлит, 2006

4. Иродов И.Е. Физика макросистем: основные законы. М.: БИНОМ. Лаб. знаний, 2009.

5. Сивухин Д.В. Общий курс физики. Электричество. М., Физматлит, 2006, 2009.

6. Савельев И.В. Курс общей физики. Электричество и магнетизм. Москва: АСТ: Астрель, 2008.

7. Сивухин Д.В. Общий курс физики. Оптика. М.: ФИЗМАТЛИТ. 2005.

8. Алешкевич В.А. Оптика. М: ФИЗМАТЛИТ, 2010.

9. Сивухин Д.В. Общий курс физики. Атомная физика. Физика ядра и элементарных частиц. М.: Физматлит, 2006

10. Шпольский Э. В. Атомная физика Т.1, 2- Санкт-Петербург [и др. ]: Лань, 2010.

11. Мухин К.Н. Экспериментальная ядерная физика. В 3-х тт. С-Пб.: Лань, 2009.

12. Сивухин Д.В. Общий курс физики. Т. 5: Атомная и ядерная физика. Москва: ФИЗМАТЛИТ, 2006.

13. Физические методы исследования неорганических веществ. Под ред. А.Б.Никольского. Изд-во М.: Издательский центр «Академия». 2006, 448 с.

14. Епифанов Г.И. Физика твердого тела: учебное пособие. Санкт-Петербург, Лань, 2011.

15. И.И. Новиков, К.М. Розин. Кристаллография и дефекты кристаллической решетки. М.: Металлургия, 1990. 336 с.

16. И.И. Новиков. Дефекты кристаллического строения металлов. М.: Металлургия, 1975. 208 с.

17. М. Б. Ляхова. Лабораторный практикум по физическому металловедению. Тверь, 2002. 53 с.

18. В. Л. Миронов. Основы сканирующей зондовой микроскопии. г. Нижний Новгород, 2004. 110 с.

19. А. Русаков. Рентгенография металлов. М.: Атомиздат, 1977. 479 с.