Обработка результатов измерений. 1. Вычислить энергию фотона излучения, пропускаемого каждым светофильтром и занести в таблицу 2.

1. Вычислить энергию фотона излучения, пропускаемого каждым светофильтром и занести в таблицу 2.

2. Измерив значение фототока для отдельного светофильтра, поделить его на коэффициенты А и В и соответствующую длину волны , занести в таблицу 2.

3. Вычислить относительную спектральную чувствитель­ность для каждой длины волны и занести в таб­лицу.

4. Построить график зависимости относительной спектральной чувствительности от энергии фотона .

5. Построив касательную к низкоэнергетическому склону кривой этой зависимости и продолжив ее до пересечения с осью абсцисс, определить длину волны , а затем оценить ширину запрещенной зоны полупроводника по формуле

Рассчитав ширину запрещенной зоны в Дж, затем перевести в эВ (1эВ = 1, 6 Дж.