Световая и электронная микроскопия

Наиболее информативными и поэтому широко используемыми методами определения дисперсности и формы частиц являются световая и электронная микроскопия. С их помощью можно непосредственно наблюдать частицы и устанавливать их размеры, т.е. исследовать наиболее широкий круг дисперсных систем как по дисперсности, так и по агрегатному состоянию фаз. Нижний предел световой микроскопии – до 100 нм, электронной микроскопии – до 2 - 5 нм.

Образец обычно берется в виде очень тонкого прозрачного слоя или среза; его кладут на прямоугольную стеклянную пластинку, называемую предметным стеклом, и накрывают сверху более тонкой стеклянной пластинкой меньших размеров, называемой покровным стеклом.

Образец часто окрашивают химичес-кими веществами, чтобы увеличить Конт-раст. Предметное стекло кладут на предметный столик так, чтобы образец находился над центральным отверстием столика. Методы световой микроскопии классифицируют по способам освещения объектов исследования. Освещение в проходящем свете применяют при рассмот-рении деталей тонких объектов. Для многих объектов применяют микроскопию с использованием падающего света (в отра-женном свете). Электронная микроскопия имеет существенный недостаток: она применима только для исследования сухих образцов и не может быть использована для наблюдения их в жидких средах. Этот недостаток отсутствует у опти-ческих методов, основанных на рассеянии света (опалесценции). Они не уступают электронной микроскопии и по чувствитель-ности.

Р и с. 1. Типичный микро-скоп: 1 – штатив; 2 – шарнир для наклона; 3 – тубусодер-жатель; 4 – ручка микромет-ренной регулировки; 5 – руч-ка грубой регулировки; 6 – окуляр; 7 – держатель окуляра; 8 – тубус; 9 – ре-вольверная головка; 10 – объ-ективы; 11 – предметный столик; 12 – конденсор; 13 – нижний держатель; 14 – зеркало