Студопедия

Главная страница Случайная страница

Разделы сайта

АвтомобилиАстрономияБиологияГеографияДом и садДругие языкиДругоеИнформатикаИсторияКультураЛитератураЛогикаМатематикаМедицинаМеталлургияМеханикаОбразованиеОхрана трудаПедагогикаПолитикаПравоПсихологияРелигияРиторикаСоциологияСпортСтроительствоТехнологияТуризмФизикаФилософияФинансыХимияЧерчениеЭкологияЭкономикаЭлектроника






Методика и Порядок измерений






Внимательно рассмотрите рисунок 13 и зарисуйте необходимое в свой конспект лабораторной работы.

Зацепите мышью движок реостата регулятора изменения периода дифракционной решётки фотокатода и установите его на максимум. Пронаблюдайте изменение дифракционной картины и изменения дифракционных максимумов.

Аналогичным образом пронаблюдайте изменение дифракционной картины при изменении скорости электронов.

Получите у преподавателя допуск для выполнения измерений.

Измерения

 

1. Нажмите мышью кнопку «Выбор» и, зацепив мышью движок регулятора периода решётки, установите значение d = 1, 5·1010 м.

2. Аналогичным образом установите первое значение скорости электронов, указанное в таблице 1 для вашей бригады.

3. Нажмите мышью кнопку «Старт» и наблюдайте движение электронов через одномерную модель дифракционной кристаллической решётки и их регистрацию на фотопластинке.

4. Определите по шкале, расположенной в правой части окна, координаты первых трёх максимумов интенсивности дифракционной картины и запишите эти значения в таблицу 1, аналогичную таблице 2 методических указаний.

5. Установите второе значение скорости для вашей бригады и повторите эти измерения ещё раз.

Таблица 1 Значения скорости электронов

(не перерисовывать)

 

 

 

Таблица 2 Результаты измерений и расчётов

V1 = м/с V2 = м/с
λ, м Xm1, см Xm2, см Xm3, см dэсред, м λ, м Xm1, см Xm2, см Xm3, см dэсред, м
        ×         ×
dэ, м         dэ, м        

 

 

5.5 Обработка результатов и оформление отчета:

1. Рассчитайте для каждого значения xm по формуле (19) период дифракционной решётки dэ, запишите эти данные в таблицу1, аналогичную таблице 2 методических указаний и сравните полученное среднее значение с установочным.

2. Проведите оценку погрешности измерений

 

 

6 Содержание отчёта

7.1 Наименование работы.

7.2 Цель работы.

7.3 Описание используемого оборудования.

7.3 Схема динамической модели для лабораторной работы «Определение периода кристаллической решетки методом дифракции электронов» (Рисунок 13)

7.4 Таблица 1 Результаты измерений и расчётов (аналогичная таблице 2 методических указаний).

7.5 Расчёт для каждого значения xm по формуле (19) период дифракционной решётки dэ.

7.6 Сравнение полученного среднего значения с установочным. Оценка погрешности измерений.

 

Контрольные вопросы

1. Что такое кристаллическая решётка?

2. Что такое узлы кристаллической решётки?

3. Чем отличаются монокристаллы от поликристаллов?

4. Как можно классифицировать кристаллы?

5. Что такое ионная связь?

6. Что такое ковалентная связь?

7. Какие типы кристаллографических систем Вы знаете?

Почему на кристаллах не наблюдается дифракция видимого света и наблюдается дифракция рентгеновского излучения?

8. Определите основные свойства волн де Бройля.

9. В чём заключается соотношение неопределённостей?

10. Что такое волновая функция и в чём заключается её статистический смысл?

11. Запишите уравнение Шрёдингера для стационарных состояний.

12. Что такое дифракция микрочастиц?

13. Каковы особенности дифракции на пространственной решётке?

14. Сформулируйте условие Брэгга-Вульфа. Что оно определяет?

15. Кем и когда впервые была доказана возможность дифракции электронов?

16. Какую информацию можно получить из анализа электронограммы?







© 2023 :: MyLektsii.ru :: Мои Лекции
Все материалы представленные на сайте исключительно с целью ознакомления читателями и не преследуют коммерческих целей или нарушение авторских прав.
Копирование текстов разрешено только с указанием индексируемой ссылки на источник.