Газового разряда 1 страница

По оси абсцисс отложено напряжение, подаваемое на электроды, а по оси ординат величина ионизационного тока (Рис.1).

Сложная зависимость тока от напряжения связана с особенностью физических процессов, протекающих в газе при движении ионов и свободных электронов в межэлектродном пространстве. Для понимания сущности этих процессов характеристика разбита на 7 участков.

На первом участке (О-А) в интервале напряжений от О до U₁, ток пропорционален напряжению. Этот участок называют областью закона Ома. В этой области не все ионы, образованные в газе, достигают электродов. Часть ионов, двигаясь в газе, рекомбинируют. С увеличением напряжения растет скорость направленного движения ионов и электронов, поэтому вероятность рекомбинации уменьшается и на электроды попадает все больше ионов и электронов. Однако с дальнейшим увеличением напряжения рост тока постепенно начинает замедляться, и, наконец наступает такой момент, когда с увеличением напряжения ток дальше не растет. Это говорит о том, что почти все образующиеся в газовом объеме ионы и электроны попадают на электроды. Ток при этом достигает постоянной величины и носит название тока насыщения (участок А-Б) в интервале напряжений от U₁ до U₂ , то есть ток практически постоянен, хотя кривая тока все же имеет небольшой подъем, вызванный небольшой рекомбинацией и другими второстепенными факторами. Этот участок носит название области ИОНИЗАЦИОННОЙ КАМЕРЫ (областью насыщения). На этом участке число ионов пропорционально интенсивности излучения, а, следовательно и активности источника. Здесь ток насыщения обусловлен только первичной ионизацией (т.е. только зависит от энергии самой частицы).

В области насыщения кинетическая энергия, получаемая ионами и электронами от электрического поля, еще недостаточна для ионизации молекул.

По мере дальнейшего увеличения напряжения, где U больше U₂, легко подвижные электроны ускоряются до такой кинетической энергии, которой хватает для ионизации встречных молекул. Это участок кривой III (участок Б-В). Эту ионизацию в отличии от первичной называют ВТОРИЧНОЙ или УДАРНОЙ ионизацией.

Электроны вторичной ионизации вместе с электронами первичной в последующих столкновениях ионизируют другие молекулы. Таким образом, происходит лавинообразное размножение электронов и ионов. В создании ионизационного тока теперь принимают участие:

1.электроны и ионы образованные частицей

2.электроны и ионы созданные от первичных электронов

Рис.10. Вольтамперная характеристика газового разряда

Нарастание количества ионов и электронов (размножение), вызванное ударной ионизацией называют газовым усилением. Для его характеристики используют понятие коэффициента газового усиления. Это отношение числа электронов образовавшихся в результате газового усиления к первичным электронам от самой частички:

,

где N – число электронов в лавине;

n – число первичных электронов.

Эта область носит название пропорциональной, т.к. хотя число частиц в результате ударной ионизации и возрастает во много раз, но все же остается пропорциональной первичному числу электронов.

Участок (Б-В) обычно относят к пропорциональной области. Коэффициент газового усиления здесь составляет 10³—10⁴ раз.

Четвертый участок (В-Г) отвечает условиям, при которых как первичные, так и вторичные ионы и электроны достигают электродов. С увеличением напряжения в пределах плато (В-Г) увеличивается только скорость ионов и электронов, но не их количество, поэтому величина тока практически не меняется.

Если за областью В-Г увеличивать напряжение, то газовое усиление возрастает настолько, что пропорциональность не соблюдается, хотя величина ионизационного тока все еще зависит от энергии ионизирующей частицы. Это область V (Г-Д), с напряжениями от U₄до U₅. Она носит название области ограниченной пропорциональности, c коэффициентом усиления 10^{5 –}10 ⁶ раз.

При увеличении напряжения выше точки Д, участок VI (область Д-Е), каждая попавшая в детектор частица вызывает лавинный разряд. Причем величина этого разряда зависит не от числа первичных ионов или электронов или вида излучения, а только от напряжения между электродами. Это область Гейгера.

Отличие этой области от других в том, что газовый разряд в них несамостоятельный, а в этой самостоятельный, т.е. появление хотя бы одного электрона вызывает вспышку самостоятельного разряда.

Явлению развития самостоятельного разряда способствует то, что в первичной лавине из-за возбуждения атомов и молекул газа возникает ультрафиолетовое излучение. Попадая на катод, в результате фотоэффекта, они выбивают из него электроны, которые в свою очередь создают новые электронно-ионные лавины. Т.о. газовый разряд сам поддерживается и развивается.

Если напряжение перенести за точку Е (участок VII), то в детекторе начнется самостоятельный разряд, возникающий уже без наличия ионизирующего излучения. Напряженность электрического поля становится таким большим, что происходит вырывание электронов из катода и детектор быстро выходит из строя. Это область непрерывного разряда или стационарного коронного разряда.

Таким образом, существует несколько областей газового разряда для применения их в ионизационном методе регистрации ионизирующих излучений:

Область АБ — ионизационные камеры;

Область БГ — пропорциональные счетчики;

Область ДЕ — счетчики Гейгера – Мюллера;

В области ГД счетчиков не существует.

При прохождении заряженных частиц в газах в результате ионизации образуются электроны и ионы. Если ионизация происходит в объеме между двумя электродами, которые имеют разность потенциалов, то за счет движения электронов и ионов к электродам в электрической цепи возникнет ток.

Все газовые ионизационные детекторы представляют собой конденсаторы, в которых пространство между электродами заполнено каким-либо газом. В зависимости от величины и распределения напряженности электрического поля в газовом промежутке – эти детекторы обладают разными свойствами. Так, при сравнительно малых напряженностях электрического поля ток, протекающий в электрической цепи, не зависит от напряжения на конденсаторе и равен числу пар ионов, которые возникают в единицу времени в объеме детектора, умноженных на заряд электрона. Такие детекторы называют ионизационными камерами. При более высоких значениях напряженности поля в результате газового усиления ток в электрической цепи может быть во много раз больше, чем число зарядов, возникающих в детекторе в единицу времени. При этом ток зависит от напряжения на конденсаторе и пропорционален ионизационному эффекту, создаваемого излучением. Такие детекторы называют пропорциональными счетчиками. Наконец, при еще более высоких значениях напряженности поля в конденсаторе возникает разряд, если в объем детектора попадает заряженная частица. Такие детекторы называют газоразрядными счетчиками.

Ионизационные методы регистрации основаны на измерении заряда или тока, создаваемого заряженными частицами при прохождении в газовой полости конденсатора. Рассмотрим связь между энергией заряженной частицы и созданной ею ионизацией. Это очень существенная зависимость, поскольку в ионизационных камерах и пропорциональных счетчиках по ионизационному эффекту определяют энергию частицы. Экспериментально было установлено, что средняя энергия W, расходуемая на создание одной пары ионов, слабо зависит от энергии заряженной частицы, от ее массы и заряда. Этот факт можно объяснить тем, что отношение вероятностей возбуждения и ионизации атомов не зависят от свойств частиц, поскольку в каждом акте взаимодействия частица теряет очень малую долю своей энергии.

Для спектрометрических измерений наиболее существенно знать с большой точностью связь W с энергией частицы. Многочисленные исследования показали, что в аргоне, например, с точностью до 0, 5% W не зависит от энергии заряженных частиц. Для воздуха величина W зависит заметно от энергии частиц. Так, для α -частиц при изменении энергии от 3…4 Мэвдо 50 кэвсредняя энергия W меняется примерно на 10%.

Более интересно другое обстоятельство – энергия, расходуемая на создание пары ионов, в различных газах почти одинакова. Например, в аргоне она даже меньше, чем в кислороде, хотя энергия, необходимая для ионизации атомов аргона, больше, чем для ионизации атомов кислорода. Это странное на первый взгляд явление можно объяснить тем, что энергии, необходимые для возбуждения, и вероятности возбуждения атомов и молекул различных газов могут заметно отличаться. В частности, в благородных газах энергии возбужденных состояний более высокие, но вероятности их возбуждения оказываются сравнительно малыми. Напротив, у кислорода уровни возбужденных состояний расположены ниже, но вероятности их возбуждения больше. В табл. 2.1 приведены значения W для разных газов и видов заряженных частиц.

Таблица 2.1. Энергия, расходуемая на образование пары ионов, В

Методы регистрации без газового усиления. Для корректного измерения энергии частиц необходимо, чтобы все образовавшиеся электроны и ионы достигли электродов камеры конденсатора. Последнее не всегда осуществляется, поскольку электроны и ионы помимо движения вдоль силовых линий электрического поля находятся в непрерывном беспорядочном тепловом движении, что мешает всем носителям заряда собраться на соответствующие электроды. Кроме того, при соударениях электронов с молекулами образуются электроотрицательные ионы, происходит рекомбинация, ионизация ударом. Все эти явления: и диффузия, и рекомбинация, и образование электроотрицательных ионов – меняют величины среднего тока или импульса.

То, что перечисленные явления имеют существенное значение, убедительно показывает зависимость тока от напряжения для камеры (конденсатора), облучаемой заряженными частицами (рис. 11).

В области I поле, создаваемое внешним источником с напряжением u₀, еще недостаточно, чтобы все электроны и ионы попадали на собирающие электроды, в области II (область работы ионизационных камер) поле достаточно, чтобы эффекты от рекомбинации и диффузии были пренебрежимо малы.

При дальнейшем увеличении напряжения электроны могут приобретать энергию, достаточную для вторичной ионизации, что приводит к увеличению тока.

Относительная протяженность плато в вольтамперной характеристике существенным образом зависит от газа, наполняющего камеру, давления, температуры, плотности ионизации. При больших давлениях и большой плотности ионизации, особенно в случаях наполнения камер газами с большой вероятностью образования электроотрицательных ионов, вольтамперная характеристика может даже не иметь плато.

Рис. 11. Зависимость тока в камере от разности потенциалов на ее

электродах при постоянном ионизационном эффекте

Верхняя граница плато определяется такими величинами напряженности поля в камере, при которых электроны могут приобрести на пути между двумя соударениями энергию, достаточную для ионизации молекул газа. Очевидно, что чем больше свободный пробег электрона и чем ниже потенциал ионизации, тем раньше наступают эффекты вторичной ионизации. Нижняя граница плато зависит от того, насколько велико значение процессов диффузии и рекомбинации. Рассмотрим количественные характеристики процессов диффузии, рекомбинации и образования электроотрицательных ионов.

Диффузия электронов и ионов. Электроны и ионы, как и молекулы любого газа, движутся в среднем всегда в направлении меньшей концентрации частиц данного вида. Такое «среднее движение» обычно характеризуют коэффициентом диффузии. Коэффициент диффузии – это величина, постоянная для данного вида частиц и заданных условий, связывает изменение числа частиц данного вида в единице объема во времени dnldt со скоростью изменения плотности этих же частиц в заданном направлении d²n/dx², т.е.

Коэффициент диффузии имеет размерность [см²/сек].Из статистической физики известно, что коэффициент диффузии связан со средней длиной свободного пробега частиц между соударениями λ и средней скоростью между соударениями . Эта связь имеет очень простой вид, если предполагается, что λ не зависит от v и, что при соударениях имеется равновероятное распределение частиц по углам после рассеяния. В этом приближении

или если ввести

где λ ₀– средний свободный пробег при единичном давлении; р – давление.

Коэффициенты диффузии очень сильно отличаются по величине для тяжелых ионов и электронов. Однако различие не только в их абсолютных значениях. Коэффициенты диффузии для тяжелых положительных и отрицательных ионов можно считать независимыми от внешнего электрического поля. Это связано с тем, что при умеренных величинах напряженности полей энергия заряженных тяжелых ионов мало отличается от энергии нейтральных молекул, поскольку при соударениях тяжелых ионов с молекулами газа происходит интенсивный обмен энергией (упругие соударения частиц с равными массами). Если же энергия ионов мало меняется за счет внешнего поля, то и величины λ и υ изменяются слабо. Для электронов дело обстоит иначе. Так как в результате упругого соударения электроны теряют малую долю своей энергии, то в электрическом поле средняя энергия электронов будет зависеть от напряженности электрического поля и, кроме того, величины λ для электронов зависят от их скорости υ.

Рост температуры увеличивает среднюю скорость υ, и коэффициент D повышается. При уменьшении давления возрастает λ, что также приводит к росту D. Коэффициенты диффузии для положительных и отри­цательных тяжелых ионов различаются незначительно. Отличие в величинах D⁺ и D^-, видимо, связано с различным распределением положительных и отрицательных зарядов в атомах среды. Для электронов величины D значительно больше и зависят от отношения напряженности электрического поля к давлению Е / р. Изменение давления при сохранении отношения Е/р меняет коэффициент диффузии для электронов в l /р раз.

Рекомбинация. Процессы возникновения нейтральных атомов и молекул при столкновениях положительных и отрицательных ионов или при столкновениях положительных ионов и электронов называют рекомбинацией ионов или электронов соответственно. Вероятность рекомбинации частиц зависит от их относительной скорости: чем меньше скорость, тем больше вероятность рекомбинации. По этой причине процесс рекомбинации электронов менее вероятен, чем процесс рекомбинации ионов. Скорость рекомбинации в заданных условиях будет, очевидно, зависеть от плотности зарядов обоих знаков. Если число актов рекомбинации, происходящих в единицу времени в единице объема, обозначить dn/dt, то, используя коэффициенты рекомбинации (множители пропорциональности), можно записать следующее соотношение:

dn/dt = – an ₊ n _-,

где а – коэффициент рекомбинации, см³/сек; n ₊ n _- – плотность зарядов в единице объема.

Коэффициенты рекомбинации оценивают величинами для ионов примерно 10^-6 и 10^-10 см³/сдля электронов при условии равномерного распределения зарядов одного и другого знака в рассматриваемом объеме. Следует отметить, что величины коэффициентов рекомбинации зависят от вида газа и средней энергии ионов и электронов.

Считая, что время сбора зарядов порядка 10^-3 с, апотери за счет рекомбинации не должны превышать 10%, получаем, что аn ₀< 10². Это значит, что допустимая концентрация положительных и отрицательных ионов должна быть меньше 10⁸ см^-3, а соответствующая концентрация положительных ионов и электронов меньше 10¹² см^-3. Чтобы создать такую среднюю плотность ионов, необходим, например, поток γ -квантов около 10¹³ см^-2 с энергией 0, 2 Мэв.

Эффекты рекомбинации существенны лишь при большой вероятности образования электроотрицательных ионов. Правда, следует иметь в виду, что плотность зарядов при ионизации тяжелыми заряженными частицами очень велика в начальный момент и поэтому предположение о равномерном распределении зарядов по объему здесь неприменимо. При не очень больших интенсивностях α -излучения основной вклад в рекомбинацию вносит рекомбинация ионов внутри трека (колонки). Расчет процесса рекомбинации в колонках очень сложен, так как вероятность рекомбинации в ней зависит от коэффициента диффузии, величины и направления электрического поля, от удельной ионизации и т.д. Если интенсивность α -излучения велика, то необходимо учитывать рекомбинацию ионов, образующихся в различных колонках. В ионизационных камерах рекомбинация приобретает существенное значение, если в газе большая вероятность образования электроотрицательных ионов. Тогда рекомбинация происходит в два этапа: образование электроотрицательного нона и затем рекомбинация.

Образование электроотрицательных ионов. Взаимодействие электронов с нейтральными атомами и молекулами может при­водить к образованию электроотрицательных ионов. Электроотрицательный ион стабилен, если его энергия в основном состоянии меньше, чем энергия основного состояния соответствующего нейтрального атома. Другими словами, энергия связи добавочного электрона должна быть положительной. Возможность существования электроотрицательного нона можно понять, рассматривая его как систему с рядом энергетических дискретных состояний, Энергии связи добавочного электрона определяется эффективным кулоновским полем ядра и электронов оболочки, которое убывает с расстоянием значительно быстрее, чем кулоновское поле точечного заряда. Добавочный электрон по принципу Паули может занимать лишь вакантные энергетические состояния. Поэтому образование электроотрицательного нона у атомов с заполненной оболочкой маловероятно, так как присоединенный электрон должен находиться в состоянии с главным квантовым числом, на единицу большим, чем у внешних электронов. А это значит, что добавочный электрон будет находиться «далеко» от внешней заполненной электронной оболочки, т.е. в области, где поле ядра будет надежно экранировано электронной оболочкой атома.

Атомы с незаполненными внешними оболочками могут образовать электроотрицательный ион, поскольку в этом случае дополнительный электрон может занять вакантное место «близко» от ядра и внешние электроны не будут полностью экранировать поле ядра. Приведенные качественные соображения находятся в согласии с наблюдениями. В газах отрицательных ионов Аг, Ne, He, а также азота не наблюдали.

Вероятность образования электроотрицательных ионов различна для разных ионов и зависит от скорости движения электронов. вероятность образования отрицательного иона при столкновении электрона с атомом или молекулой характеризуют коэффициентом прилипания h, который определяется отношением сечения образования отрицательного иона к полному сечению взаимодействия электрона с атомом. Для того чтобы рассчитать число образованных отрицательных ионов, достаточно знать среднее число столкновений электронов с атомами ν и величину h. Тогда вероятность избежать захвата электрона при одном соударении равна (1- h), а при ν соударениях – (1- h)^v. Следовательно, вероятность образования отрицательного иона при соударениях равна [1- (1- h)^v ].

Среднее число соударений электронов с атомами в единицу времени можно оценить, взяв отношение средней скорости теплового движения электронов υ к средней длине свободного пробега при единичном давлении λ _о, тогда при любом давлении р среднее число соударений будет равно υ р/λ _о.

Электроотрицательные ионы могут образовываться не только при столкновениях электронов с атомами, но и при столкновении нейтрального атома с поверхностью металла. Этот процесс может иметь большую вероятность, если энергия связи добавочного электрона в атоме (отрицательном ионе) больше работы выхода электронов из металла. В ионизационных камерах и счетчиках процесс образования отрицательных ионов на катоде (отрицательном электроде) возможен в два этапа: положительный ион вблизи катода нейтрализуется и образует нейтральный атом в возбужденном состоянии, а затем возбужденный атом захватывает второй электрон. Последний процесс энергетически возможен, если сумма энергии возбуждения и энергии связи электрона в отрицательном ионе больше работы выхода электронов из металла.

Без внешнего электрического поля, образовавшиеся в результате ионизации, электроны и ионы будут диффундировать и время их жизни (в бесконечном объеме) будет определяться рекомбинацией. Картина существенно изменяется, если объем, в котором происходит ионизация, поместить во внешнее электрическое поле. При достаточно большой напряженности поля заряды будут двигаться в направлении электродов. Это движение зарядов создает ток в камере и во внешней измерительной цепи. Величина плотности тока

J = J⁺ + J^-,

где J⁺ и J ^– компоненты тока, обусловленные движением положительных и отрицательных ионов соответственно. Рекомбинация ионов и их диффузия будут уменьшать величины J⁺ и J^-. Если диффузией и рекомбинацией пренебречь, то плотность тока можно выразить через средние скорости движения зарядов вдоль силовых линий поля w⁺ и w^-. Эти средние скорости называются скоростями дрейфа. Очевидно, что

J⁺=n⁺ew⁺, J^-=n^-ew^-,

где n⁺ и n^- – количество ионов и электронов в единице объема (плотность ионов, электронов).

Рассмотрим более подробно дрейф зарядов в поле. Пусть в некоторый момент в объеме газа прошли заряженные частицы и образовали свободные электроны и ионы. Если внешнего поля нет, то ионы и электроны между соударениями движутся прямолинейно. Их движение можно характеризовать:

§ средним числом соударений в единицу времени ν;

§ средним свободным пробегом между соударениями λ;

§ средней скоростью теплового движения υ.

Очевидно, что λ = υ /ν. Когда имеется внешнее электрическое поле, то ионы между соударениями движутся уже под действием поля, их пути становятся параболическими, что само по себе при слабых полях не изменяет величин υ, v и λ, и за время между двумя соударениями ионы сдвигаются в направлении соответствующих электродов. Оказывается, что сравнительно быстро устанавливается средняя скорость движения ионов к соответствующим электродам при постоянном электрическом поле. Действительно, за время Δ t произойдет v Δ t соударений и за это время ион сместится вдоль поля на величину Δ х, т.е. за время Δ t ион приобретает энергию еЕ Δ х. В то же время в результате упругих и неупругих соударений заряд потеряет часть своей энергии.

Если считать, что при каждом столкновении теряется доля энергии, равная fЕ (Е – кинетическая энергия иона), то за время Δ t потери составят v∙ f∙ E∙ Δ t. Покaпотери энергии будут меньше, чем ее увеличение за счет движения в поле, энергия ионов будет расти. Равновесие между приростом и потерями энергии наступает главным образом потому, что потери энергии при одном столкновении пропорциональны кинетической энергии нона. Насколько быстро наступает равновесие, зависит от доли f энергии, теряемой в одном столкновении. Для тяжелых ионов можно считать, что в каждом соударении теряется в среднем половина энергии. Поэтому тяжелые ионы не могут приобрести большой кинетической энергии и электрическое поле очень мало меняет средние величи­ны v и λ, характеризующие их движение. Электроны, напротив, при одном столкновении теряют малую долю своей энергии. Следовательно, электроны в электрическом поле могут приобрести большую энергию, верхняя граница которой определяется нижними уров­нями, возбуждаемыми при неупругих соударениях.

Для ионов скорость дрейфа пропорциональна напряженности поля и братно пропорциональна давлению газа w⁺ = μ ⁺E/ p, где μ ⁺– коэффициент пропорциональности, называемый подвижностью ионов, который равен скорости дрейфа ионов в поле с единичной напряженностью и при единичном давлении. Скорость дрейфа ионов можно вычислить довольно просто, если предположить, что эта средняя скорость в направлении электродов приобретается ионами между двумя соударениями. Такое предположение для тяжелых ионов выполняется достаточно хорошо, поскольку в этом случае f велико. Тогда средняя скорость определяется силой, действующей на ион е Е/ М где М – масса иона, и средним временем ее действия ‹ t › Среднее время между двумя соударениями ‹ t › пропорционально среднему пробегу между соударениями и обратно пропорционально средней скорости теплового движения, т.е.

w = (eE/M)‹ t ›≈ (eE/M)(λ ₀/ pυ).

Как уже отмечалось выше, тяжелые ионы будут очень мало изменить свою энергию за счет действия электрического поля, поскольку в каждом соударении происходит интенсивный обмен энергией. А это значит, что величины υ и λ ₀ можно считать независимыми от величины напряженности поля Е. Обозначая μ = e λ ₀ /Mυ, получаем

w= μ (E/ p).

Используя связь кинетической энергии ионов с температурой Е= 3/2(kT), можно связать подвижность ионов с коэффициентом диффузии:

μ = (e / kT) Dp.

Величины подвижностей положительных и отрицательных ионов близки между собой. Подвижности тем меньше, чем тяжелее молекулы. Такую зависимость можно попять, если в первом приближении считать свободный пробег одинаковым для всех газов. В этом случае подвижность обратно пропорциональна корню квадратному из массы иона. Поскольку потери энергии электронами при одном соударении малы, то в электрическом поле электроны приобретают энергию, заметно превышающую энергию теплового движения. Поэтому величины среднего пробега и скорость движения между соударениями для электронов будут зависеть от величины напряженности электрического поля. По этим причинам для электронов скорость дрейфа является сложной функцией напряженности поля.

4.3.3. Ионизационные камеры

Устройство камер. Ионизационные камеры могут быть самых различных конфигураций (плоские, цилиндрические, сферические) и объемов (от долей 1 см³ при измерениях тепловыделения в экранах реакторов до десятков и сотен литров при исследовании распределения рассеянного излучения в воздухе). Основные особенности ионизационных камер можно проиллюстрировать на примере плоской камеры, схема которой изображена на рис. 12. На этом же рис. показана и схема подключения камеры к измерителю тока. Электроды камеры необходимо тщательно изолировать друг от друга. Сопротивление изоляции и приложенное рабочее напряжение U_о определяют, в конечном счете, тот минимальный ток, созданный за счет ионизации, который можно измерить в камере.

Чем меньше величина измеряемого тока, тем больше должно быть сопротивление изоляторов. Изоляторы должны обладать хорошим поверхностным сопротивлением. Это, в частности, предъявляет ряд требований к материалам изоляторов – они должны хорошо обрабатываться, не адсорбировать влагу, быть устойчивыми к облучению и т.д. Такие изоляторы, как тефлон и полистирол, в больших полях ионизирующего излучения изменяют свои электриче­ские свойства – их сопротивление уменьшается. Поэтому при больших интегральных потоках или при больших мощностях излучения лучше использовать неорганические изоляторы, такие, как кварц и окись алюминия. Удельное объемное сопротивление многих изоляторов достаточно велико, и токи утечки получаются малые по сравнению с током, обусловленным космическим излучением и естественной радиоактивностью. Но токи утечки по поверхности изоляторов могут быть значительно больше токов утечки за счет внутреннего сопротивления изоляторов.