Физические методы изучения структуры материалов. 1. Методы изучения элементного состава материалов 720

1. Методы изучения элементного состава материалов 720

1.1 Особенности эмиссионного спектрального анализа 720

1.2 Способы локализации разряда 722

1.3 Способ поверхностного и послойного спектрального анализа 726

1.4 Качественный эмиссионный спектральный анализ 727

1.5 Особенности эмиссионный спектральный анализ 729

1.6 Количественный эмиссионный спектральный анализ 731

1.7 Спектральные приборы 734

1.8 Примеры практического применения 736

1.8.1 Определение содержания углерода 736

1.8.2 Послойный микроанализ на углерод в сталях 736

1.8.3. Анализ неметаллических включений в сталях 737

1.8.4 Локальный микроанализ с применением

ограничительных шайб 737

1.8.5 Микроанализ ликвационной неоднородности сплавов 737

1.8.6 Спектральный анализ сложнолегированных сталей 738

1.8.7 Специальные методы спектрального анализа 738

2. Рентгеноспектральный анализ 739

2.1 Физические особенности флуоресцентного

рентгеноспектрального анализа 739

2.2 Возможности рентгеноспектрального анализа

и его применение 742

2.3 Основные этапы рентгеноспектрального анализа 743

2.4 Нахождение концентрации определяемого элемента 747

2.5 Аппаратура рентгеноспектрального анализа 752

2.6 Примеры рентгеноспектрального флуоресцентного анализа 754

2.6.1 Анализ с поправками на поглощение аналитической

линии в образце 754

2.6.2 Анализ с поправками на поглощение аналитической

и первичного излучения 755

3. Микрорентгеноспектральный анализ 736

3.1 Физические особенности рентгеноспектрального анализа 736

3.2 Детекторы рентгеновского излучения 761

3.3 Рентгеновские микроанализаторы 763

3.4 Качественный микрорентгеноспектральный анализ 765

3.5 Полуколичественный и количественный анализ 766

3.6 Примеры практического применения 768

3.6.1 Ликвация в сталях и сплавах 768

3.6.2 Ликвация в сплавах на основе никеля 770

3.6.3 Рентгеновский микроанализ при изучении диффузионных

процессов 771

4. Метод вторичной ионной масс-спектрометрии 772

5. Применение лазеров в спектральном анализе 776

6. Методы металлографии 780

6.1 Методы подготовки объектов 780

6.2 Металлографические микроскопы 781

6.3 Практическая металлография 783

7. Методы просвечивающей электронной микроскопии 784

7.1 Физические особенности электронной оптики 784

7.2 Механизм формирования контраста в электронном микроскопе 793

7.3 Методы подготовки объектов 799

8. Отражательный электронный микроскоп 808

9. Эмиссионный электронный микроскоп 809

10. Автоэлектронная микроскопия 809

11. Автоионная микроскопия 811

12. Растровая сканирующая электронная микроскопия 812

12.1 Физические особенности работы растрового микроскопа 812

12.2 Формирование изображения и контраст в растровом

электронном микроскопе 818

12.2.1. Троекторный контраст 820

12.2.2 Топографический контраст 821

12.3 Методы обработки видиосигналов 823

12.4 Методы подготовки объектов 824

12.5 Методы совместного использования растрового

электронного микроскопа и рентгеновского микроанализатора 826

13. Сканирующая туннельная микроскопия 830

14. Дифракционная электронная микроскопия 831

14.1 Физические особенности дифракции электронов 831

14.2 Физический механизм формирования дифракционного

контраста 835

15. Рентгеноструктурный анализ 842

15.1 Физические особенности рентгеноструктурно анализа 842

15.2 Источники рентгеновского характеристического излучения 846

15.3 Методы регистрации характеристического

рентгеновского излучения 848

15.4 Дифракция рентгеновского излучения 852

15.5 Методы индицирования дифракционных спектров 854

15.6 Качественный рентгеновский фазовый анализ 855

15.7 Количественный рентгеновский фазовый анализ 857

15.7.1 Метод гомологических пар 857

15.7.2 Метод внутреннего стандарта 857

15.7.3 Фазовый анализ при наложении линий определяемой фазы 858

15.7.4 Метод измерения отношения интенсивностей

аналитических линий 858

15.7.5 Метод измерения массового коэффициента поглощения 859

15.7.6 Метод внешнего стандарта 859

15.7.7 Метод наложения 859

15.8 Методы практического расчёта параметров

элементарной ячейки 860

15.9 Методы расчёта структурных параметров

кристаллических материалов 864

15.9.1 Особенности расчёта структурных параметров 864

15.9.2 Метод определения величины микронапряжений и

кристаллических блоков методом аппроксимации 865

15.9.3 Определение величины микронапряжений и

кристаллических блоков методом гармонического анализа 868

16. Практические работы 870

16.1 Эмиссионный оптический анализ 870

16.2 Рентгеноспектральный флуоресцентный анализ 871

16.3 Дифракционная электронная микроскопия 874

16.4 Микрорентгеноспектральный анализ 878

16.5 Рентгеноструктурный анализ 882

16.5.1 Фазовый анализ по данным о межплоскостных

расстояниях 882

16.5.2 Расчёт параметра кристаллической решётки для

кубической сингонии 884

16.5.3 Определение микродеформаций и областей

когерентного рассеяния методом аппроксимации 886

Литература 795